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當前位置:首頁產品展示LEEMAN分析儀器GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF

全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF

產品簡介:GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機結合體

產品型號:GNR,TX2000

更新時間:2024-11-01

廠商性質:代理商

訪 問 量 :195

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GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機結合體

 GNR,TX2000全反射X熒光光譜儀,TXRF與EDXRF的有機結合體


 

分析原理

TX2000 原理是基于X 熒光能譜法,但與 X 射線能譜形成對比的是“傳統(tǒng)能譜采用原級 X 光束以 45°角轟擊樣品,而TXRF 采用毫弧度的臨界角。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級 X 光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以一定程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲"。

 

僅需將一小滴樣品(5-100uL 采用合適溶劑溶解的被測物質)放置在二氧化硅載體上,溶劑蒸發(fā)后形成一層厚度為幾納米的殘留物,此時可以一定程度上消除來自于樣品和樣品基體產生的散射。由于殘留物薄膜厚度極小,在還未產生基體影響時已經完成了檢測工作,結合高功率 / 高分辨儀器,通過內標監(jiān)控即可輕松完成多元素同時定量分析的工作。

 

 

 

儀器特點

★ 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上

★ 配備創(chuàng)新光學編碼器的步進電機,保證精確角度測量

★ 采用雙靶 (Mo/W) X 射線管,軟件控制自動切換原始光束和軔致輻射

★ 高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器

★ 極小的樣品與檢測器間距,保證極低背景干擾和優(yōu)異的靈敏度

★ 超出 50 余種元素的檢出限低于 10pg

★ 氦氣附件可以改善輕元素的檢出限

★ 能譜儀采用全自動設計,操作者可以通過計算機控制全反射條件獲得不同的能量源,控制單色器步進電機和射線管的開關

 

 

 

應用舉例

環(huán)境分析:    水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物

制藥分析:     生物體液和組織樣品中的有害元素

法醫(yī)學:     微小證據(jù)分析

化學純度分析: 酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑

油品分析:     原油、輕質油、燃料油

染料分析:     墨水、油漆、粉末半導體

材料分析:      揮發(fā)相分解

核材料工業(yè): 放射性元素分析

 

 

要了解更多相關產品,請聯(lián)系愛恩跡科技(廣州)有限公司,我們期待您的咨詢。

 

 

 


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